Impact of oxygen exchange reaction at the ohmic interface in Ta2O5-based ReRAM devices
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DOI码：10.1039/c6nr03810g
发表刊物：Nanoscale
卷号：8
是否译文：否
发表时间：1905-07-08
个人信息 Personal information
学历：博士研究生毕业
毕业院校：剑桥大学
电子邮箱：yguo@whu.edu.cn