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正电子寿命谱仪

发布时间：2020-12-08  点击次数：

用于测量材料中原子尺度微观结构，如金属、半导体中的空位型缺陷，纳米析出物，高分子材料及其它多孔材料中的纳米及亚纳米尺度孔洞结构。

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陈志权

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