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瞬态热反射系统—transient thermoreflectance(TTR)
测试对象: 硅，砷化镓，氮化镓、碳化硅、氧化镓、金刚石等半导体薄膜或块体；高分子、二氧化硅等绝缘材料；石墨、二硫化钼、氮化硼等二维材料；
测试参数：水平和横向热导率，界面热阻
材料尺寸：水平>1毫米, 厚度大于>100纳米,形状无要求
